| A63.7001 Tungsten Filament Scan Electron Microscope، SE + BSE، 150000x | |
| القرار | 6nm @ 30KV (SE) |
| تكبير | 150000 ضعف |
| بندقية الكترون | خرطوشة خيوط التنجستن المركزة مسبقًا |
| الجهد االكهربى | تسريع الجهد 1 ~ 15KV ، قابل للتعديل بشكل مستمر ، ضبط الخطوة 1KV |
| كاشف | المعيار: SE ، BSE ، CCD |
| اختياري: EDS | |
| نظام الشفط | نظام الفراغ العالي بالتحكم التلقائي الكامل ، وقت الفراغ أقل من 2 دقيقة |
| مرحلة العينة | مرحلة السيارات القياسية XY ، نطاق السفر 30x30mm ، |
| مرحلة اختيارية ذات 5 محاور | |
| ماكس عينة | Ф50 × H35mm |
| مسافة العمل | 5-35 ملم |
| مكثف | مكثف مدمج لا يحتاج إلى فتحة ضبط يدوي (LaB6 اختياري) |
| نظام الصور | SE ، BSE ، BSE + SE (مختلط) وضع المسح: 1. وضع الفيديو: 512 × 512 بكسل ، لا حاجة لمسح نافذة صغيرة 2. الوضع السريع: وقت المسح الضوئي <3 ثانية ، 512 × 512 بكسل ، 3. الوضع البطيء: وقت المسح <40 ثانية ، 2048 × 2048 بكسل ، تنسيق ملف الصورة: BMP ، TIFF ، JPG ، PNG |
| التنقل | التنقل البصري CCD (ليس التنقل بالصور الكهربائية) |
| وظيفة تلقائية | تركيز تلقائي بمفتاح واحد ، ضبط تلقائي للسطوع والتباين |
| برامج الكمبيوتر | نظام Win 10 للكمبيوتر الشخصي ، مع برنامج تحليل الصور الاحترافي للتحكم الكامل في تشغيل مجهر SEM بالكامل ، مواصفات الكمبيوتر لا تقل عن Inter I5 3.2GHz ، ذاكرة 4G ، شاشة IPS LCD 24 بوصة ، قرص صلب 500G ، ماوس ، لوحة مفاتيح |
| شرط العمل | 220V / 50Hz 1KW ، لا حاجة لجدول امتصاص الصدمات |
| البعد |
جسم المجهر 283 * 553 * 505 ملم
مضخة ميكانيكية 340 * 160 * 140 ملم |
| الملحقات الاختيارية | |
| A50.7002 | مطياف الأشعة السينية المشتت للطاقة EDS |
| A50.7011 | أيون الاخرق المغطي |
تُباع منتجاتنا في جميع أنحاء العالم ، ويمكنك أن تطمئن إلى العملية الكاملة لمنتجاتنا.
