OPTO-EDU A63.7235 مجهر إلكتروني ماسح ذو انبعاث حقلي عالي الإنتاجية 12 كيلو فولت 600000x
-
إبراز
مجهر إلكتروني ماسح ذو انبعاث حقلي 12 كيلو فولت,مجهر مسح عالي الإنتاجية 600000x,OPTO-EDU SEM بتكبير عالٍ
,High-Throughput Scanning Microscope 600000x
,OPTO-EDU SEM with high magnification
-
بندقية الكتروننوع Schottky الانبعاث الحراري للانبعاثات الإلكترون المصدر الشعاع الثبات <1 ٪/يوم
-
نظام العدسة الموضوعيةSorril ™ الكهرومغناطيسي عدسة عينة وضع تباطؤ المرحلة
-
مسافة العمل القياسية1.5mm
-
الحد الأقصى لمجال الرؤية100um (مسافة العمل القياسية) 1 مم (أقصى مسافة عمل)
-
كاشف الإلكترون (قياسي)كاشف SE في العمود في كاشف BSE
-
اكتشاف ارتفاع WDFOCUS TRAICHING ™ نظام تتبع التركيز التلقائي
-
مكان المنشأالصين
-
اسم العلامة التجاريةCNOEC, OPTO-EDU
-
إصدار الشهاداتCE, Rohs
-
رقم الموديلA63.7230
-
وثيقة
-
الحد الأدنى لكمية1 كمبيوتر
-
الأسعارFOB $1~1000, Depend on Order Quantity
-
تفاصيل التغليفالتعبئة الكرتون ، لنقل الصادرات
-
وقت التسليم5 ~ 20 يوم
-
شروط الدفعT/T ، West Union ، PayPal
-
القدرة على العرض5000 قطعة / شهر
OPTO-EDU A63.7235 مجهر إلكتروني ماسح ذو انبعاث حقلي عالي الإنتاجية 12 كيلو فولت 600000x
أوبتو إدو A63.7235 المجهر الإلكتروني المسح الضوئي للقطاع ذو الطاقة العالية 12KV 600000x
الخصائص الرئيسية
- دقة 1.5nm@1Kv ، التقاط تلقائي لحاء الصورة الكبيرة حتى حجم سم2
- تصوير مزدوج القنوات لـ SE و BSE كل واحد 100M بكسل في الثانية
- سرعة التصوير الشاملة > 10 أضعاف المجهر الإلكتروني التقليدي
- إنتاج سريع لتقارير تحليل البيانات من صور SEM الضخمة
- تصنيف المواد المتعددة المقاييس من المليمتر إلى النانومتر
مصمم المجهر الإلكتروني لمسح الانبعاثات الميدانية عالية النطاق A63.7235 لتمييز وتحليل SEM على نطاق واسع للعينات الكبيرة على نطاق واسع ، ويستخدم على نطاق واسع في البحث والصناعة.تقنية التصوير النانوية ذاتية السرعة عالية للغاية توفر تجربة تصوير استثنائية.
القدرات الأساسية:
- دقة 1.5nm@1Kv ، التقاط تلقائي لحاء الصورة الكبيرة تصل إلى سم2 الحجم
- تصوير مزدوج القنوات لـ SE و BSE كل واحد 100M بكسل في الثانية
- سرعة التصوير الشاملة > 10 أضعاف المجهر الإلكتروني التقليدي
- إنتاج سريع لتقارير تحليل البيانات من صور SEM الضخمة
- تصنيف المواد المتعددة المقاييس من المليمتر إلى النانومتر
المجهر الإلكتروني الـ A63.7235 للكشف عن انبعاثات المجال عالية الصلبة، تم تطويره بشكل مستقل من قبل أوبتو إدو،يحقق التصوير عالي النطاق من خلال التصميم المنهجي المبتكر في تكنولوجيا التصوير، منصة الحركة، التحكم في الدوائر، والخوارزميات الذكية، مع سرعات التصوير تتجاوز المجهر الإلكتروني التقليدي عشرات المرات.التغلب على قيود تقنية SEM التقليدية في السرعة، الدقة، وتلف العينة.
المواصفات التقنية
| العدسة البصرية الإلكترونية | |
|---|---|
| سلاح الإلكترون | نوع شوتكي انبعاثات الحقل الحراري شعاع مصدر الإلكترونات استقرار التيار الحالي < 1٪ / يوم |
| نظام العدسة | SORRILTM العدسة الكهرومغناطيسية المركبة نموذج مرحلة التباطؤ وضع |
| القرار | 1.5 نانومتر @ 1كيلو فولت 1.3nm @ 3kV |
| العدسة الكهرومغناطيسية الغوصية (*1) | |
| فولتاج التسارع | 0.1-12 كيلو فولت قابلة للتعديل المستمر (*2) |
| التكبير | 500X ~ 600,000X (صورة SEM) 1X-600X (الملاحة البصرية) |
| تيار الشعاع | 50pA ~ 30nA (* 3) |
| مسافة العمل القياسية | 1.5ملم |
| الحقل المرئي الأقصى | 100um (مسافة العمل القياسية) 1 ملم (أقصى مسافة عمل) |
| محرك إلكترون | البلانكر الكهربائي الستاتي |
الميزات المتقدمة
▶ تصوير فائق السرعة
- تم تحقيق تصوير مزدوج القنوات من الإلكترونات الثانوية والإلكترونات المتناثرة إلى الوراء من خلال تصميم الأجهزة والبرمجيات التي تم تطويرها بشكل مستقل: تصوير عالي الدقة على مستوى الفيديو
- معدل الإطار على مستوى الفيديو عالي الوضوح يسمح بمراقبة التغيرات الديناميكية في العينة في الوقت الحقيقي
▶ جودة الصور عالية
- نظام العدسة المكونة الكهرومغناطيسية الغمر الفريد يقلل بشكل فعال من الانحرافات البصرية
- يقلل نظام الانحراف بالمسح الكهربائي من تشويه حافة الصورة
- أجهزة الكشف عن الإلكترونات المباشرة في العدسة SE و BSE تعمل على تصوير سريع متزامن من قنوات مزدوجة
- نظام التعويض النشط يلغي التدخل البيئي
▶ التصوير على نطاق واسع
- قدرة التصوير عالية السرعة للغاية مع نظام تتبع التركيز التلقائي بالكامل
- خوارزميات معالجة الصور من الذكاء الاصطناعي تمكن من مسح مصفوفة عالية الدقة بشكل تلقائي بالكامل
- خياطة تلقائية للحصول على تصوير بانورامي بحجم نانوميتر كبير
▶ تحليل ذكي
- التحليل الذكي للبيانات الضخمة، وتوليد تقارير تحليل البيانات بسرعة
- معالجة الصور الذكية، قياس الصور المخصصة، الإحصاءات، والتحليل
▶ عملية بسيطة
- تحميل العينات التلقائية بالكامل والملاحة ، استبدال العينة بنقرة واحدة
- الملاحة الصورية الضوئية الحقل الكبير تتصل بسلاسة مع التصوير SEM
- قدرة على التشغيل دون طيار 24/7
أمثلة تطبيق
مراقبة بنية الخلايا الدقيقة في دماغ الفأر والقلب والكبد والكلى تحت المجهر الإلكتروني المسح، باستخدام Arrays Scan لإجراء مسح تلقائي بالكامل على عينات المنطقة المستهدفة.
يتم تحضير العينة باستخدام طريقة التقطيع المستمر ، حيث يتم جمع ما يصل إلى مئات الشرائح ، ووضعها على دائرة عينة ، وتحميلها في SEM مرة واحدة.
التحليل المرضي: جمع كل المعلومات المفصلة عن الشريحة بأكملها، وزيادة حجمها على أي منطقة لمراقبة البنية فوق البشرية للأعضاء تحت الخلية على أنسجة الكلى.
الملاحظات
* ملاحظة:
①: عدسة كهرومغناطيسية غير مغمرة اختيارية لمراقبة المواد المغناطيسية الحديدية
②: اختياري 0 ~ 30kV سلاح الكترون
③: اختياري 100nA
④: مقياس التداخل بالليزر اختياري
①: عدسة كهرومغناطيسية غير مغمرة اختيارية لمراقبة المواد المغناطيسية الحديدية
②: اختياري 0 ~ 30kV سلاح الكترون
③: اختياري 100nA
④: مقياس التداخل بالليزر اختياري
منتجات ذات صله
تُباع منتجاتنا في جميع أنحاء العالم ، ويمكنك أن تطمئن إلى العملية الكاملة لمنتجاتنا.